CPK的計算公式Cpk=CpCa：制程準確度;Cp:制程精密度;注意:計算Cpk時，取樣數據至少應有20組數據，而且數據要具有一定代表性cpk計算公式,Cpk的定義：制程能力指數；Cpk的意義：制程水平的量化反映;（用一個數值來表達制程的水平）制程能力指數：是一種表示制程水平高低的方便方法，其實質作用是反映制程合格率的高低,CPK的計算公式Cpk=CpCa：制程準確度;Cp:制程精密度;注意:計算Cpk時，取樣數據至少應有20組數據，而且數據要具有一定代表性。
Cpk的定義：制程能力指數；Cpk的意義：制程水平的量化反映;（用一個數值來表達制程的水平）制程能力指數：是一種表示制程水平高低的方便方法，其實質作用是反映制程合格率的高低。CPK的計算公式Cpk=CpCa：制程準確度;Cp:制程精密度;注意:計算Cpk時，取樣數據至少應有20組數據，而且數據要具有一定代表性
第一種Cpk的計算公式要先計算Ck與Cp，然后才算出Cpk，簡單整理如下：Ck=/，M:規格中心值，X:量測數據平均值，T:規格寬度Cp=T/6σ，T:規格寬度，σ：量測數據的標準差Cpk=xCp第二種Cpk的計算公式分別使用規格上下限來計算取最小值就是Cpk：Cpu（管制上限）=/3σ，USL:規格上限，u:量測數據平均值，σ：量測數據的標準差Cpl（管制下限）=/3σ，LSL:規格下限，u:量測數據平均值，σ：量測數據的標準差Cpk=min｛Cpl,Cpu｝，也就是算出Cpu,Cpl后，取兩者中的最小值就是Cpk
單側上限.Tu為規格上限,下限無要求:Cp=Tu-μ/3σ≈Tu-x（靶）/3S單側下限。Tl為規格下限，上限無要求：Cp=μ-Tl/3σ≈-x（靶）-Tl/3S假如你的測量值是形位公差的話，理論上講越接近0,就越好,所以你的M值因設置為0,還有它的計算公式注意分母的取值,是用極差的還是用標準差.你這個做控制圖的話，就是單值移動極差圖，看你現在的數據有好幾個超差的，先去了解一下原因，在做CPK的前提是你的過程要是穩定狀態的，也就是說要符合正態分布，希望對你有幫助
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