xrd是X射線衍射，可以分析相，SEM是掃描電鏡，主要觀察微觀結(jié)構(gòu)，TEM是透射電鏡，主要觀察超限微觀結(jié)構(gòu),XRD是X射線衍射儀，其原理是在高壓下，陰極發(fā)射的電子形成高能電子束，轟擊陽(yáng)極靶(一般為Cu)，靶內(nèi)部電子能量增大，被激發(fā),AFM是一種原子力顯微鏡，主要用于觀察表面形貌。
xrd是X射線衍射，可以分析相，SEM是掃描電鏡，主要觀察微觀結(jié)構(gòu)，TEM是透射電鏡，主要觀察超限微觀結(jié)構(gòu)。AES指的是能譜，主要分析濃度分布。STM掃描隧道顯微鏡也用于觀察超微結(jié)構(gòu)。AFM是一種原子力顯微鏡，主要用于觀察表面形貌。答案并不完整。
SEM是掃描電子顯微鏡，最高可以放大到20萬(wàn)倍左右。用二次電子成像觀察物質(zhì)的微觀形態(tài)。EDS是一種能譜儀，根據(jù)各元素的電子能量不同來(lái)鑒別元素。通常與SEM結(jié)合使用，也就是說(shuō)在SEM上安裝EDS附件，在觀察形貌時(shí)，選取某個(gè)區(qū)域進(jìn)行能譜，已知該區(qū)域的元素組成。XRD是X射線衍射儀，其原理是在高壓下，陰極發(fā)射的電子形成高能電子束，轟擊陽(yáng)極靶(一般為Cu)，靶內(nèi)部電子能量增大，被激發(fā)。當(dāng)它回到基態(tài)時(shí)，多余的能量以X射線和俄歇電子的形式釋放出來(lái)。XRD收集X射線，當(dāng)X射線在樣品上掃描時(shí)，根據(jù)布拉格方程會(huì)產(chǎn)生衍射角和衍射峰。每種物質(zhì)的衍射峰不一樣，所以通常用來(lái)鑒定相，也是根據(jù)峰面積半定量。
{2。
