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本文目錄一覽

1，1wb1T中T是什么意思
2，重慶有多少個國家級貧困縣
3，xxtxtx次冪求解
4，重慶有哪些重點扶貧區縣
5，什么叫輔助性T細胞
6，重慶建卡貧困戶
7，工程圖紙中要求CPK133 是什么意思

1，1wb1T中T是什么意思

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2，重慶有多少個國家級貧困縣

重慶市現有14個國家級貧困縣

重慶有14個國家級貧困縣

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3，xxtxtx次冪求解

估計你的式子沒有寫對。如果是下面的情況，若需要過程就【追問】,其中[(x+t)/(x-t)]^x表示[(x-t)分之(x+t)]的x次方。(x→ ∞)lim[(x+t)/(x-t)]^x=

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4，重慶有哪些重點扶貧區縣

（一）國家級貧困縣（14個）城口縣巫溪縣巫山縣奉節縣云陽縣開縣萬州區秀山縣黔江區酉陽縣彭水縣石柱縣武隆縣豐都縣（二）省級貧困縣（4個）涪陵區南川區潼南縣忠縣

5，什么叫輔助性T細胞

一種起免疫作用的淋巴細胞，起源于骨髓造血干細胞，在特異性免疫過程中發揮作用。輔助性T細胞（helper cell,Th 細胞），占T細胞總數的65％左右，Th細胞能識別抗原，分泌多種淋巴因子，既能輔助B細胞活化，產生抗體增強體液免疫應答，又能輔助T細胞產生細胞免疫應答；從多方面引起和增強免疫能力。

6，重慶建卡貧困戶

http://cx.cqfp.gov.cn/百度“重慶市扶貧開發辦公室”，進去之后，右邊有一個“貧困農戶在線查詢”的鏈接，就是我上邊給的網址可以查

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7，工程圖紙中要求CPK133是什么意思

CPK>=1.33表示制程能力指數>=1.331. CPK是Complex Process Capability index 的縮寫，是企業用于表示制成能力的指標。制程能力是過程性能的允許最大變化范圍與過程的正常偏差的比值，即生產合格產品的能力，CPK值越大表示品質越佳。（制程能力指數研究的目的在于確認質量特性符合其設計規格的程度，并作為制程持續改善的指標依據）；2. 當Cpk等于1.33時，該流程生產的產品的理論合格率=99.379%（考慮1.5西格瑪偏移時的情況）3. 當Cpk大于1.33時，該流程生產的產品的理論合格率=99.993%（不考慮1.5西格瑪偏移時的情況）4. 也就是說，流程能力達到1.33時，產品合格率都能滿足公司（生產者）和客戶（使用者）的要求，即達到可接受的水平！5. 指標應用1. 當選擇制程站別Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對后制程的影響度。2. 計算取樣數據至少應有20~25組數據，方具有一定代表性。3. 計算Cpk除收集取樣數據外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。4. 首先可用Excel的“STDEV”函數自動計算所取樣數據的標準差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(u). 規格公差=規格上限－規格下限；規格中心值=（規格上限+規格下限）/2；5. 依據公式：Ca=(X-U)/(T/2) ，計算出制程準確度：Ca值 (x為所有取樣數據的平均值)6. 依據公式：Cp =T/6σ ，計算出制程精密度：Cp值7. 依據公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ，計算出制程能力指數：Cpk值8. Cpk的評級標準：（可據此標準對計算出之制程能力指數做相應對策）（1）A++級 Cpk≥2.0 特優可考慮成本的降低（2）A+ 級 2.0 > Cpk ≥ 1.67 優應當保持之（3）A 級 1.67 > Cpk ≥ 1.33 良能力良好，狀態穩定，但應盡力提升為A+級（4）B 級 1.33 > Cpk ≥ 1.0 一般狀態一般，制程因素稍有變異即有產生不良的危險，應利用各種資源及方法將其提升為 A級（5）C 級 1.0 > Cpk ≥ 0.67 差制程不良較多，必須提升其能力（6）D 級 0.67 > Cpk 不可接受其能力太差，應考慮重新整改設計制程。

CPK>=1.33表示制程能力指數>=1.33當Cpk等于1.33時，該流程生產的產品的理論合格率=99.379%（考慮1.5西格瑪偏移時的情況）當Cpk大于1.33時，該流程生產的產品的理論合格率=99.993%（不考慮1.5西格瑪偏移時的情況）也就是說，流程能力達到1.33時，產品合格率都能滿足公司（生產者）和客戶（使用者）的要求，即達到可接受的水平。擴展資料：1、意義制程水平的量化反映;（用一個數值來表達制程的水平）制程能力指數：是一種表示制程水平高低的方便方法，其實質作用是反映制程合格率的高低。2、計算公式CPK=Cp*（1-|Ca|）Ca (Capability of Accuracy)：制程準確度；在衡量「實際平均值」與「規格中心值」之一致性。對於單邊規格，因不存在規格中心，因此不存在Ca；對於雙邊規格，Ca=(ˉx-U)/(T/2)。Cp (Capability of Precision)：制程精密度；在衡量「規格公差寬度」與「制程變異寬度」之比例。對於單邊規格，只有上限和中心值，Cpu = | USL-ˉx | / 3σ 或只有下限和中心值，Cpl = | ˉx -LSL | / 3σ；對於雙邊規格：Cp=(USL-LSL) / 6σ=T/6σ注意: 計算Cpk時，取樣數據至少應有20組數據，而且數據要具有一定代表性。參考資料來源：百度百科-CPK